手機sim卡座的設計——華睿優創提供
隨著用戶身份模塊 (SIM) 不斷的微型化以及 Nano-SIM - 第 4 代 SIM 卡標準 - 的引入,為更多的電子器件、更大的電池和更薄的手機設計節省了PCB空間,卻也使得 micro-SIM 卡用戶現有的卡因太大太厚而無法插入標準尺寸的 Nano-SIM 卡插座中。一些用戶試圖修剪 micro-SIM 卡以適應較小的插座,卻發現 micro-SIM 卡依舊太厚而無法插入僅接受的標準的、0.67mm
厚的 Nano-SIM 卡插座。
華睿優創設計了一款厚度為 1.30mm 的 Nano-SIM 卡插座,支持標準厚度 (0.67mm) Nano-SIM 卡以及更厚 (0.76mm) 的特別定制的micro-SIM 卡的使用。 這一系列產品與 0.30mm 塊型 SIM 連接器,配合使用,提供了一個高接觸法向力 (0.30N),以確保卡與插座之間接觸完整性和電氣穩定性。
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手機sim卡座的檢測要求(一)——華睿優創提供
怎么檢測手機sim卡座?以下流程僅供參考:
一、 包裝
1.1、外包裝標識要求正確、清晰、完整。
1.2、外包裝要求無破損、水漬、臟污等不良現象。
二、外觀
2.1、盤裝物料要求包裝無水漬、破損、變形、擠壓。
2.2、表面無臟污、破損、標稱值標識完整、清晰、正確。
2.3、自粘上帶不允許堵住載帶孔,卷帶飛達掛孔要求無堵塞。
2.4、卷帶物料不允許有卡料、變形、擠壓。
2.5、手機sim卡座引腳不允許有斷腳、氧化、變形、浮高等。
2.6、手機sim卡座表面不允許有變形、起翹,內部塑膠要求無破損、批峰。
2.7、表面材質要求與樣品或承認書完全相符(如耐高溫的LCP料等)。
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手機sim卡座的設計——華睿優創提供
2012年6月I日據美國媒體報道,盡管對4FF(Nano_SIM,也叫第四類規格SIM卡)標準的不同提案存在反對和批評的聲音,但蘋果的Nano-SIM卡設計提案還是被歐洲電信標準協會(ETSI)采納,諾基亞、RIM和摩托羅拉聯合提交的提案落選。ETSI在其網站上宣布了此消息,并表示在日本大阪舉行的智能卡平臺技術會議上,已就4FF (Nano-SIM)達成協議。該協會稱,第四種規格(4FF)卡寬12.3毫米、高8.8毫米、厚0.67毫米,比目前使用的SIM卡尺寸小了 40%。終的設計方案將以確保向后兼容現有SIM卡的方式制定,并繼續提供與今天我們使用卡相同的功能。目前,現有Nano-SIM卡在插入卡座之后,容易產生退出的缺陷,即Micro SIM卡與卡座的插接可靠性較低。
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